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PVD薄膜传感器监测强化结构裂纹的可行性研究
更新时间:2025-07-09
    • PVD薄膜传感器监测强化结构裂纹的可行性研究

    • Feasibility of Monitoring Strengthened Structure Crack via PVD Film Sensor

    • 西安交通大学学报   2018年52卷第7期 页码:139-145
    • DOI:10.7652/xjtuxb201807020    

      中图分类号: TP212.11;V215.6
    • 网络首发:2018-07-10

      纸质出版:2018

    移动端阅览

  • 刘凯 1, 崔荣洪 1, 侯波 2, 等. PVD薄膜传感器监测强化结构裂纹的可行性研究[J]. 西安交通大学学报, 2018,52(7):139-145. DOI: 10.7652/xjtuxb201807020.

    Feasibility of Monitoring Strengthened Structure Crack via PVD Film Sensor[J]. 2018, 52(7): 139-145. DOI: 10.7652/xjtuxb201807020.

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