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部分耗尽异质环栅场效应晶体管阈值电压模型
更新时间:2025-07-09
    • 部分耗尽异质环栅场效应晶体管阈值电压模型

    • Threshold Voltage Modeling of Partially-Depleted Dual-Material Surrounding Gate Field-Effect Transistor

    • 西安交通大学学报   2013年47卷第12期 页码:50-54+109
    • DOI:10.7652/xjtuxb201312009    

      中图分类号: TN386
    • 网络首发:2013-12-10

      纸质出版:2013

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  • 李尊朝, 罗诚, 王闯, 等. 部分耗尽异质环栅场效应晶体管阈值电压模型[J]. 西安交通大学学报, 2013,47(12):50-54+109. DOI: 10.7652/xjtuxb201312009.

    Threshold Voltage Modeling of Partially-Depleted Dual-Material Surrounding Gate Field-Effect Transistor[J]. 2013, 47(12): 50-54+109. DOI: 10.7652/xjtuxb201312009.

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