针对半导体器件特征尺寸小、集成电路集成度和复杂度高导致的芯片测试功耗高、面积开销和测试数据量大等问题

提出了一种带广播结构的低功耗低成本内建自测试的测试图形生成方法

给出了硬件实现方式和测试方案。首先

该方法通过一个异或网络将线性反馈移位寄存器(LFSR)结构和Johnson计数器相结合

产生具有多维单输入跳变(MSIC)特性的测试向量;然后

通过复用测试生成结构

广播电路将测试向量扩展为能够填充更多扫描链的基于广播的多维单输入跳变(BMSIC)测试图形

从而减小了测试图形生成电路的面积开销;最后

以ISCAS’89系列中较大的5款电路为对象实验

结果表明

与MSIC测试生成电路相比

BMSIC测试图形生成方法可在确保低功耗高故障覆盖率基础上

减小50%左右的电路面积开销。