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微透镜阵列热压印应力与脱模温度研究
更新时间:2025-07-09
    • 微透镜阵列热压印应力与脱模温度研究

    • A Research on Stress and Demolding Temperature During Hot Embossing Process of Microlens Array

    • 西安交通大学学报   2013年47卷第4期 页码:6-10
    • DOI:10.7652/xjtuxb201304002    

      中图分类号: TN305.7
    • 网络首发:2013-04-10

      纸质出版:2013

    移动端阅览

  • 王伊卿 1, 张庆 1, 甘代伟 2, 等. 微透镜阵列热压印应力与脱模温度研究[J]. 西安交通大学学报, 2013,47(4):6-10. DOI: 10.7652/xjtuxb201304002.

    A Research on Stress and Demolding Temperature During Hot Embossing Process of Microlens Array[J]. 2013, 47(4): 6-10. DOI: 10.7652/xjtuxb201304002.

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