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Si中30°部分位错弯结-重构缺陷运动特性的分子模拟
更新时间:2025-07-09
    • Si中30°部分位错弯结-重构缺陷运动特性的分子模拟

    • Molecular Simulation for Migration Characteristics of Kink-Reconstruction Defect Complex on 30° Partial Dislocation in Silicon

    • 西安交通大学学报   2009年43卷第5期 页码:124-127+132
    • 中图分类号: O474;O411.3
    • 网络首发:2009-05-10

      纸质出版:2009

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  • 孟庆元 1, 王庆盛 1, 2. Si中30°部分位错弯结-重构缺陷运动特性的分子模拟[J]. 西安交通大学学报, 2009,43(5):124-127+132. DOI:

    Molecular Simulation for Migration Characteristics of Kink-Reconstruction Defect Complex on 30° Partial Dislocation in Silicon[J]. 2009, 43(5): 124-127+132. DOI:

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相关作者

张英佳
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西安交通大学动力工程学院动力工程多相流国家重点实验室
西安交通大学动力工程多相流国家重点实验室
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重庆大学输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室
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