具有屏蔽机壳的电子设备系统级电磁敏感性分析方法

张爱民; 张杭; 陈德桂; 弥大鹏

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具有屏蔽机壳的电子设备系统级电磁敏感性分析方法

更新时间：2025-12-08

- 具有屏蔽机壳的电子设备系统级电磁敏感性分析方法
- Issue 2, Pages: 190-194(2007)
- 作者机构：
  
  西安交通大学电子与信息工程学院
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：
  CLC： TN03
- Published：2007
- 稿件说明：
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张爱民, 张杭, 陈德桂, et al. 具有屏蔽机壳的电子设备系统级电磁敏感性分析方法[J]. 2007, (2): 190-194.
DOI：

张爱民, 张杭, 陈德桂, et al. 具有屏蔽机壳的电子设备系统级电磁敏感性分析方法[J]. 2007, (2): 190-194. DOI：

摘要

提出了一种基于场路结合、对具有屏蔽机壳的电子设备进行系统级电磁敏感性(EMS)仿真分析的新方法.该方法采用有限元法计算外部电场分布

对电场沿固定路径积分

得到所需的表面干扰电压

将外部电磁干扰对内部电路的影响等效为电压源的作用

再利用基于电路模型和全波分析相结合的方法对内部高速电路进行EMS仿真分析

弥补了以往在EMS分析时只以实验为主

缺乏理论依据的缺陷.实例仿真分析表明

该方法简单、直观

不仅可以详细分析电子设备内部高速电路中干扰的传播情况

而且可以对内部高速电路进行优化设计

提高了系统的抗干扰性.

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